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操作演示視頻
LIRI-2006 顯微圖像分析儀
(測量范圍:1-3000微米)
一、產(chǎn)品簡介:
  遼儀牌LIRI-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)是我公司研制的一種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統(tǒng)的顯微鏡法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過數(shù)字?jǐn)z象機(jī)抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸?shù)接嬎銠C(jī)中,通過專業(yè)的顆粒圖像分析軟件對圖像進(jìn)行處理與分析,經(jīng)顯示器和打印機(jī)顯示和輸出分析結(jié)果。本儀器具有直觀、準(zhǔn)確、測試范圍寬等特點(diǎn),不僅可以直接觀察到顆粒形貌,還可以計算出每個顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布,為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。
二、LIRI-2006顯微像分析儀基本參數(shù):
序號 項目 性能指標(biāo) 序號 項目 性能指標(biāo)
1 測量范圍 1-3000微米 2 重復(fù)性誤差 <3%(不包含樣品制備因素造成的誤差)
3 數(shù)字?jǐn)z像機(jī) 300萬像素 4 最大光學(xué)放大倍數(shù) 1600倍
5 系統(tǒng)總放大倍數(shù) 5000倍 6 最大分辨率 0.1微米/像素
7 顯微鏡 <中外合資光學(xué)顯微鏡(可選配其他種類顯微鏡,如進(jìn)口顯微鏡、金相顯微鏡等)
三、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)基本參數(shù):
序號 項目 性能指標(biāo) 序號 項目 性能指標(biāo)
1 像素尺寸 3.2μm X 3.2μm 2 傳感器類型 行掃描CMOS
3 輸出顏色 bayer彩色 4 數(shù)據(jù)位數(shù) 紅綠藍(lán)各10選8
5 光學(xué)尺寸 1/2英寸 6 鏡頭接口 CS,C
7 信噪比 43dB 8 動態(tài)范圍 60dB
9 清晰度 >1000線 10 靈敏度 1.0V@550nm/lux/s
11 曝光方式 ERS 12 同步方式 外觸發(fā)或連續(xù)采集
13 輸出方式 USB2.0 14 數(shù)據(jù)傳輸距離 數(shù)據(jù)傳輸距離5米(加中繼可達(dá)25m)
15 可編程控制 圖像尺寸、亮度、增益、幀率、曝光時間 16 供電要求 5V
17 功耗 <2.25W 18 外形尺寸(mm) 54.5x54.5x46.1(含接圈)、38x38x38.7(不含接圈)
19 頻率 <6幀/秒@2048X1536、10幀/秒@1600X1200、15幀/秒@1280X1024、45幀/秒@640X480
四、儀器組成與圖像分析原理:
  • 儀器組成:
  •   LIRI-2006型顯微圖像分析系統(tǒng)包括粒度分析軟件、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、顯微鏡、電腦、打印機(jī)等組成部分。
  • 分析原理:
  •   通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素量的統(tǒng)計,計算出每個顆粒的等效面積圓和等球體積,從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等球體積直徑以及圓形度等參數(shù),再對所有的顆粒進(jìn)行分級統(tǒng)計,從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。
五、LIRI-2006顯微圖像分析儀軟件功能
LIRI-2006顆粒圖像分析儀測試結(jié)果圖片
  • 圖像處理功能:
  •   對圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換,二值化,分割,刪除,剪切,粘貼,縮放,填充等一系列處理,得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
  • 數(shù)據(jù)處理功能:
  •   通過對圖像進(jìn)行處理,測量軟件自動統(tǒng)計出顆粒個數(shù),然后計算每個顆粒所包含的像素數(shù),得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長、實際周長、圓形度等參數(shù)。通過粒度分級,得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數(shù),并可根據(jù)需要選擇個數(shù)分布或體積分布。
  • 軟件輸出項目:
  •   包括原始數(shù)據(jù)(樣品信息和測試信息);分析數(shù)據(jù)(粒度分布表/粒度分布圖);圖形(頻率分布直方圖和累計分布曲線);典型結(jié)果(中位徑,平均徑,圓形度等)。
  • 報告輸出功能:
  •   可以打印原始圖像和多種測試報告,包括粒度報告,圖像報告,圓形度報告以及粒度和典型圖像的綜合報告。
軟件操作流程
六、LIRI-2006顯微圖像分析儀適用領(lǐng)域:
  •   研磨材料:白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等;
  •   電池材料:石墨、鈷酸鋰等;
  •   其他:可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。

 


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